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薄膜电容的金属损耗

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人气:-发表时间:2019-08-22 17:43【

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薄膜电容器由于具有很多优良的特性,因此被大家熟知和应用。薄膜电容的金属损耗,本文小编将详细的跟大家科普一下,一起学习下吧。

①引出线的损耗。金属化薄膜电容器在工作时,引出线的等效电阻R是很小的,损耗功率也很小,其tgδ微乎其微,可以忽略不计。虽然如此,为了把引出线的损耗影响做到小,也有一些厂商用镀锡铜线代替传统的镀锡铜包钢线。根据电阻定律R=pL/S,ρ铜小于ρ铁。在L(引出线长)一定的情况下,铜线的等效电阻比CP线要小。

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金属化薄膜电容器极板电阻引起的损耗。金属化薄膜电容器极板串联电阻的大小理论上和极板长度、宽度、镀层厚度、留边的宽度有关。它与极板长度、镀层厚度成反比,与极板宽度、留边宽度成正比。所以在设计时,在其它条件允许的条件下,减小金属化膜料的方阻(即增加镀层厚度),减小极板宽度、留边的宽度是降低金属化薄膜电容器极板电阻引起的损耗的途径。

③接触电阻引起的损耗。它主要有两部分组成,一是喷金料与电容器芯子端面的接触损耗,主要受到喷金料本身材质的影响,与金属层同等或相近成分的喷金料,能够更好的与金属层相互渗入,从而减小接触损耗。二是引出线与喷金层的接触损耗。引出线既要和喷金层有牢固的接触,又不能过度接触而造成芯子端面的损伤。

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